2024年7月19日,国际电工委员会(IEC)发布标准IEC 63378-2:2024《半导体封装的热标准化 - 第2部分:用于稳态分析的分立半导体封装的3D热仿真模型》。该标准规定了分立半导体封装(TO-243、TO-252 和 TO-263)的三维(3D)热模型,用于电子装置的稳态热分析,以准确地估计结温。假设该模型由半导体供应商制造,并由电子装置的组装制造商使用。
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